ІНТЕЛЕКТУАЛЬНИЙ АНАЛІЗ ЛОГІВ АВТОМАТИЗОВАНОГО ТЕСТУВАННЯ ВЕБ-ЗАСТОСУНКІВ: МЕТОД LIPSI
DOI:
https://doi.org/10.30890/2567-5273.2025-41-01-022Ключові слова:
інтелектуальний аналіз логів, автоматизоване тестування, класифікація помилок, логістична регресія, динамічне вагове моделювання, лог-файли, LIPSI, пріоритезація дефектів, штучний інтелект у тестуванні, аналіз тестових результатівАнотація
Автоматизація тестування веб-застосунків є важливим аспектом сучасних процесів гарантування якості програмного забезпечення, особливо у великих і складних проєктах, де виникає потреба у перевірці сотень або навіть тисяч сценаріїв у стислі терміни. Одним іПосилання
Landauer M., Wüchner T., Reuter C., et al. Deep Learning for Anomaly Detection in Log Data: A Survey // Computers & Security. – 2023. – Vol. 131. – DOI: https://doi.org/10.1016/j.cose.2023.103263
Khan Z.A., et al. Impact of Log Parsing on Deep Learning-based Anomaly Detection // Empirical Software Engineering. – 2024. – Vol. 29. – DOI: https://doi.org/10.1007/s10664-024-10533-w
Duan Y., Zhang S., Wang Q., Zhao H. Log Anomaly Detection via Evidential Deep Learning (LogEDL) // Applied Sciences. – 2024. – Vol. 14, No. 16. – DOI: https://doi.org/10.3390/app14167055
Mäntylä M., Wang Y., Nyyssölä J. LogLead: Fast and Integrated Log Loader, Enhancer, and Anomaly Detector // arXiv preprint. – 2023. – URL: https://arxiv.org/abs/2311.11809
Liu J., Huang J., Huo Y., Jiang Z., Gu J., Chen Z., Feng C., Lyu M. Log-based Anomaly Detection Based on EVT Theory with Feedback // arXiv preprint. – 2023. – URL: https://arxiv.org/abs/2306.05032
Biehl M. Fundamentals of Machine Learning. – Cham: Springer Nature, 2023. – 316 с. – ISBN: 978-3-031-35770-2
Arora S., Gupta A. Hands-On Exploratory Data Analysis with Python. – Birmingham: Packt Publishing, 2023. – 402 с. – ISBN: 978-1-80461-619-2
Zhang S., Duan Y. Modern Log Analytics and Anomaly Detection. – Singapore: Springer, 2024. – 228 с. – ISBN: 978-981-99-6147-2
Sawhney R. Practical MLOps for DevOps Engineers. – Birmingham: Packt Publishing, 2023. – 342 с. – ISBN: 978-1-80324-845-5.
Kotsiantis S., Kanellopoulos D., Pintelas P. Fundamentals of Machine Learning: A Practical Approach. – London: Springer, 2023. – 289 с. – ISBN: 978-3-031-34123-7
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2025 Автори

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.



